Uni Regensburg - Fakultät Physik (Software Stand 24.2.22)
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Kurzbeschreibung AFM

Im Versuch „Rasterkraftmikroskopie“ soll der Umgang mit einem modernen Messgerät der Nanowissenschaften, das heutzutage routinemässig im Labor eingesetzt wird, erlernt werden.

Der Versuch umfasst eine Einarbeitung in die physikalischen Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie, die Handhabung des Geräts und der Darstellungs- und Auswerteverfahren der gewonnenen Datensätze. Im ersten Teil des Versuchs wird das Mikroskop für die weiteren Messungen kalibriert und der Sensor charakterisiert. Im zweiten Teil wird unter anderem die Oberfläche einer CD vermessen und die Kapazität des Datenträgers bestimmt. Optional können auch mitgebrachte Proben, zum Beispiel selbst hergestellte Proben aus einem anderen Versuch, unter dem Mikroskop betrachtet werden.


Eignung: F1 NF      → Link zur Versuchsanleitung

Eignung der Versuche:

F1Versuche im Rahmen des Pflichtmoduls B-P5 (Bachelor Physik) bzw. PHY-LA-GYM-P8 (Lehramt)
NaVersuche im Rahmen des Moduls NS-P8 (Bachelor-Nanoscience)
F2Versuche im Rahmen des Wahlmoduls B-WV3 (Bachelor Physik) bzw. PHY-LA-GYM-W5 (Lehramt)
NFVersuche für Studierende aus anderen Fakultäten, z.B. Master Mathematik


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